主要特點(diǎn)：

手動(dòng)轉(zhuǎn)塔；

無摩擦主軸，試驗(yàn)力精度高；

高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，精密坐標(biāo)試臺(tái)；

中/英文界面轉(zhuǎn)換；

各種硬度值轉(zhuǎn)換；

試驗(yàn)過程自動(dòng)化，操作簡(jiǎn)單，無人為操作誤差；

RS232數(shù)據(jù)接口；

可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗(yàn)；

可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng)；

精度符合GB/T4340.2  ISO6507-2和美國(guó)ASTM E384.

應(yīng)用范圍：

滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬；

薄板、金屬薄片、電鍍層、微波試件；

碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度測(cè)量；

適用于平行平面和微波零件及超薄零件的精密維氏測(cè)量。

主要技術(shù)規(guī)格：

測(cè)量范圍：5-3000HV

試驗(yàn)力：0.09807  0.2452  0.4903  0.9807  1.961  2.942  4.904  9.807N(10  25  50  100  200  300  500  1000克力)

硬度標(biāo)尺:HV0.01  HV0.025  HV0.05  HV0.1  HV0.2  HV0.3  HV0.5  HV1

測(cè)量系統(tǒng)放大倍率：400X（測(cè)量）  100X（觀察）

最小檢測(cè)單位：0.01um

試樣允許更大高度：75mm

壓頭中心至機(jī)壁距離：110mm

電源：AC220V，50/60HZ

外型尺寸：470*320*500mm

重量：約40kg

標(biāo)準(zhǔn)配備：

座標(biāo)試臺(tái)：1個(gè)     細(xì)軸試臺(tái)：1個(gè)      薄板試臺(tái)：1個(gè)

平口鉗：1個(gè)       大V型塊、小V型塊：各1個(gè)

金剛石角錐壓頭：1個(gè)     標(biāo)準(zhǔn)顯微硬度塊：2塊 打印機(jī)：1個(gè)